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汎銓歷年事蹟 半導體製程發展的縮影

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汎銓科技2005年7月成立,細數歷來重要事蹟,2011年率先引進雙束型聚焦式離子束顯微鏡機台Helios 450S(Dual Beam FIB Helios 450S),提供高效率高解析影像,2013年引進高階電路修補機台V400ACE(FEI V400ACE)提供先進製程電路修補服務,2014年引進高解析掃描式電子顯微鏡機台(UHR SEM),藉此開發不同的技術工法,提供客戶專業分析服務項目。

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