汎銓以材料分析專業技術服務半導體上游的製程研發,協助客戶突破新的技術障礙。2018年即整合相關成熟的分析工法,以「TEM(Si定點)X-S試片製備EUV光阻材料分析」、「TEM(Si定點)X-S試片製備EUV-10nm超薄試片」、「TEM(Si定點)X-S試片製備EUV-5nm超薄試片」等新的分析技術品項,來滿足客戶對品質及效率的需求。
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汎銓以材料分析專業技術服務半導體上游的製程研發,協助客戶突破新的技術障礙。2018年即整合相關成熟的分析工法,以「TEM(Si定點)X-S試片製備EUV光阻材料分析」、「TEM(Si定點)X-S試片製備EUV-10nm超薄試片」、「TEM(Si定點)X-S試片製備EUV-5nm超薄試片」等新的分析技術品項,來滿足客戶對品質及效率的需求。