半導體測試設備領導者愛德萬測試 (Advantest)，7月14-16日在加州Moscone會議中心舉辦的SEMICON West展覽會上，展示全系列物聯網 (IoT) 測試解決方案，包括自動測試設備 (ATE)、太赫茲量測系統、多視角量測掃描式電子顯微鏡 (SEM) 及電子束微影系統。愛德萬攤位在北館#6143，並提供操作示範。...
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