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惠特布局化合物半導體 推測試及晶圓雷射刻印設備

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惠特科技表示,多年前即投入雷射二極體測試技術開發,包含光接收器(PD)、面射型雷射(VCSEL)、邊射型雷射(DFB、EML)等二極體之測試設備,可針對客戶需求整合光電量測、高低溫量測、近遠場測試、外觀檢測等量測項目,亦可提供高功率元件測試設備,皆已導入客戶端多年。

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