鎖相熱放射偵測系統(Thermal EMMI)，可以在不破壞晶片封裝情況下偵測故障點，絕倫的靈敏偵測器可在極低的上電功率下，定位出故障點，再輔以相位分析，便可獲取故障位置的深度資訊，解決客戶在3D封裝故障定位的難題。
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