亞亞科技發展半導體相關自動光學檢測設備有成,以機械視覺及電腦運算取代人工,運用在WLCSP、COF/COG及Fan Out封裝。去(2019)年半導體展展出新產品Reel IR Inspection,可高速檢測髒污、Chipping、Sidewall Crack,判斷空料和IC尺寸監控,可減少人工成本,有效管控出貨品質。
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亞亞科技發展半導體相關自動光學檢測設備有成,以機械視覺及電腦運算取代人工,運用在WLCSP、COF/COG及Fan Out封裝。去(2019)年半導體展展出新產品Reel IR Inspection,可高速檢測髒污、Chipping、Sidewall Crack,判斷空料和IC尺寸監控,可減少人工成本,有效管控出貨品質。