晶圓品質優劣，透過探針卡（Probe Card）做良率測試，篩選出不良品，可避免不良品封裝成本，是積體電路製造中，對於製造成本影響非常大的重要技術與介面。而全世界第一張探針卡就是由日本電子材料株式會社（JAPAN ELECTRONIC MATERIALS CORP.,JEM）生產出的。
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